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X射線(xiàn)固態(tài)表征

藥物檢測(cè)項(xiàng)目概覽
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行業(yè)應(yīng)用

  • XRD應(yīng)用介紹-小角X射線(xiàn)散射
    XRD應(yīng)用介紹-小角X射線(xiàn)散射

    X射線(xiàn)小角散射(Small Angle X-ray scattering,SAXS)是通過(guò)收集X射線(xiàn)穿過(guò)樣品之后產(chǎn)生的散射信號(hào),來(lái)研究樣品1~100 nm范圍之內(nèi)結(jié)構(gòu)信息的技術(shù)。SAXS對(duì)樣品的形式?jīng)]有特定要求,塊狀,粉末和液體均可,但要求感興趣的結(jié)構(gòu)與周?chē)h(huán)境有電子密度起伏,即襯度。

  • XRD應(yīng)用介紹-微區(qū)XRD(μ-XRD)
    XRD應(yīng)用介紹-微區(qū)XRD(μ-XRD)

    對(duì)于塊狀樣品的XRD測(cè)試,往往是把塊狀樣品研磨成各向同性的粉末狀態(tài),再利用發(fā)散的線(xiàn)狀X射線(xiàn)(布拉格-布倫塔諾幾何)對(duì)樣品進(jìn)行測(cè)試分析。但是有些塊狀樣品研磨成粉末是不現(xiàn)實(shí)的,比如稀有的塊體樣品,或是鑲嵌在基體上的某個(gè)微小區(qū)域,又或者希望研究某個(gè)塊狀樣品上物相的空間分部等等。

  • XRD應(yīng)用介紹-掠入射X射線(xiàn)衍射
    XRD應(yīng)用介紹-掠入射X射線(xiàn)衍射

    薄膜材料就是厚度介于一個(gè)納米到幾個(gè)微米之間的單層或者多層材料。由于厚度比較薄,薄膜材通常依附于一定的襯底材料之上。常規(guī)XRD測(cè)試,X射線(xiàn)的穿透深度一般在幾個(gè)微米到幾十個(gè)微米,這遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于薄膜的厚度,導(dǎo)致薄膜的信號(hào)會(huì)受到襯底的影響(圖1)。

  • XRD應(yīng)用介紹-聚合物X射線(xiàn)表征
    XRD應(yīng)用介紹-聚合物X射線(xiàn)表征

    聚合物是由重復(fù)基團(tuán)長(zhǎng)鏈組成的大分子。聚合物的組成、結(jié)構(gòu)和形式?jīng)Q定了它的性能,因此這些參數(shù)的正確表征至關(guān)重要。 聚合物通常被合成為纖維、片材和其它固體形態(tài)。 這些類(lèi)型的聚合物特性受其結(jié)晶度、晶體結(jié)構(gòu)和取向等結(jié)構(gòu)參數(shù)影響很大,可以使用 X 射線(xiàn)衍射 (XRD) 研究這些結(jié)構(gòu)參數(shù)。本文介紹了XRD在聚合物結(jié)構(gòu)表征中的應(yīng)用。

  • XRD應(yīng)用介紹-介孔分子篩SBA-15結(jié)構(gòu)分析
    XRD應(yīng)用介紹-介孔分子篩SBA-15結(jié)構(gòu)分析

    介孔分子篩SBA-15具有大晶胞的二維六方孔狀結(jié)構(gòu),具有更大的孔徑、更厚的孔壁和更高的孔容,而且具有更好的水熱穩(wěn)定性,有利于它在溫度較高、體系中有水的反應(yīng)中應(yīng)用,因此在催化、分離、生物及納米材料等領(lǐng)域有廣泛的應(yīng)用前景。 SBA-15結(jié)構(gòu)特穩(wěn)定性和其孔徑大小與性能有較大關(guān)聯(lián),而XRD是表征其結(jié)構(gòu)的有效方法之一。由于SBA-15的晶胞較大,其衍射峰往往出現(xiàn)在非常低的角度,這導(dǎo)致很難從直射光和空氣散射中區(qū)分其衍射信號(hào)。目前,隨著衍射儀的發(fā)展,動(dòng)態(tài)光路的設(shè)計(jì)很好的解決了這類(lèi)問(wèn)題。

  • XRD應(yīng)用介紹-電池材料結(jié)構(gòu)精修以及電化學(xué)原位XRD應(yīng)用
    XRD應(yīng)用介紹-電池材料結(jié)構(gòu)精修以及電化學(xué)原位XRD應(yīng)用

    電池材料中所含物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)可以通過(guò)分析x射線(xiàn)衍射圖譜來(lái)獲得。而在電池材料結(jié)構(gòu)精修以及電化學(xué)原位XRD應(yīng) 用中,通過(guò)電化學(xué)原位XRD實(shí)時(shí)檢測(cè)充放電過(guò)程中的x射線(xiàn)衍射圖譜可以進(jìn)一步探究材料的結(jié)構(gòu)演變規(guī)律,進(jìn)而加深對(duì)電池結(jié)構(gòu)的認(rèn)識(shí)。

  • XRD應(yīng)用介紹-單晶外延薄膜高分辨XRD表征
    XRD應(yīng)用介紹-單晶外延薄膜高分辨XRD表征

    高分辨率 X 射線(xiàn)衍射 (HRXRD) 是一種強(qiáng)大的無(wú)損檢測(cè)方法,其研究對(duì)象主要是單晶材料、單晶外延薄膜材料以及各種 低維半導(dǎo)體異質(zhì)結(jié)構(gòu)。廣泛用于單晶質(zhì)量、外延薄膜的厚度、組分、晶胞參數(shù)、缺陷、失配、弛豫、應(yīng)力等結(jié)構(gòu)參數(shù)的測(cè)試?,F(xiàn) 代HRXRD與常規(guī)XRD的區(qū)別主要體現(xiàn)在:(1)高度平行且高度單色的高質(zhì)量X射線(xiàn);(2)不僅要測(cè)試倒易格點(diǎn)的位置(角度), 還要測(cè)試倒易格點(diǎn)的形狀(缺陷);(3)更高的理論要求-動(dòng)力學(xué)理論。

  • XRD應(yīng)用介紹-X射線(xiàn)全散射對(duì)分布函數(shù)方法分析結(jié)晶/ 非晶無(wú)機(jī)材料的局域結(jié)構(gòu)
    XRD應(yīng)用介紹-X射線(xiàn)全散射對(duì)分布函數(shù)方法分析結(jié)晶/ 非晶無(wú)機(jī)材料的局域結(jié)構(gòu)

    局域結(jié)構(gòu)是指構(gòu)成材料的原子或離子在幾個(gè)晶胞尺度范圍內(nèi)(< 1 nm)所具備的排布規(guī)律。與晶體的長(zhǎng)程有序結(jié) 構(gòu)不同,不論某種材料整體來(lái)看是晶體或非晶,在一定的尺度范圍內(nèi),組成原子的排布都可能具備一定的特征,這種僅 存在于短程范圍內(nèi)的結(jié)構(gòu)同樣會(huì)對(duì)材料的物理化學(xué)性能產(chǎn)生一定影響。

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